ICT/FCT 测试探针

可靠的测试，始于接触点。在REECUFUTURE，我们的ICT和FCT测试探针专为在高频次测试循环中提供稳定的电气性能和持久的机械寿命而设计。

无论您是在大批量生产中验证PCB，还是对组装好的模块进行功能测试，我们的探针都能提供稳定的接触电阻、用于刺穿污染物的锋利皇冠头设计，以及针对特定应用优化的弹力。我们提供丰富的针尖形状、安装配置及载流能力选项，可满足从细间距元件到大功率测试点的各类需求。

需要超出产品目录标准的特殊方案？我们也根据您的治具设计、板布局和测试要求，开发定制探针解决方案。为开机率而生，为精测而设。